激光粒度分析儀是近二十幾年來快速發(fā)展起來的一種新型粒度分析儀，由于該儀器采用的計算機技術(shù)與激光原理相結(jié)合，充分發(fā)揮了各自的優(yōu)勢，使粉體的粒度分析變得快速方便，滿足了粉體行業(yè)粒度分析的基本需要。再加上儀器生產(chǎn)廠家廣泛的宣傳(儀器分析快速、，精度高，分析精度0.001μm)，因此該儀器得到快速發(fā)展和應用。

　　今天咱們來了解下在激光粒度分析儀的使用過程中，會影響到設(shè)備測量結(jié)果的要素：

　　1、儀器光學設(shè)計影響粒度測試結(jié)果：不同廠家，以及不同型號的激光粒度儀產(chǎn)品，其設(shè)計往往不同，例如不同的光學設(shè)計（例如直線式光路設(shè)計和折疊式光路設(shè)計，透鏡后/前傅立葉變換，激光光束大小等），不同尺寸、焦距規(guī)格的傅立葉透鏡，不同的探測器數(shù)量和分布以及其靈敏度和噪音水平，不同規(guī)格的光學部件等都會造成相同顆粒所得到的光能分布的差異。同樣的道理，如果測量儀器光路或光學器件出現(xiàn)了狀態(tài)變化也會引起結(jié)果的偏差。

　　2、光能分布反演算法影響粒度測試結(jié)果：在實際測試中，儀器獲得信號是復合的，即一次探測獲取信號是多個顆粒信號疊加的結(jié)果。基于不同粒徑顆粒光能分布特性，用特定算法將復合信號拆分開來，得到所檢測多個顆粒的粒徑。由于不同探測器信號差別巨大（大顆粒散射光強度遠大于小顆粒），且有光源不穩(wěn)定，背景噪音等因素的影響，對軟件算法的要求也非常高。因為不同型號光學設(shè)計和探測器分布是不同的，因此軟件算法也必然不同。在反演計算過程中會出現(xiàn)結(jié)果的不同。

　　3、測試條件的差異影響粒度測試結(jié)果：在實際粒度儀測試過程中，存在例如取樣代表性、儀器對中調(diào)節(jié)、光學參數(shù)及樣品循環(huán)參數(shù)設(shè)定，分散介質(zhì)、分散劑、穩(wěn)定劑的選擇和質(zhì)量，樣品處理步驟等多種人為因素，以及溫度變化，電源穩(wěn)定性，震動等客觀因素，都會造成測量結(jié)果的差異。

　　希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本分析儀。